发明名称 |
一种垂直沟道场效应晶体管及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种垂直沟道场效应晶体管及其制备方法。该场效应晶体管的沟道区为一垂直于衬底上的圆环形Si台;源端为多晶硅,位于圆环形Si台的上端;漏端位于圆环形Si台下端的外侧;栅位于圆环形Si台的外侧面;在圆环形Si台的内部填充有介质材料。与常规的垂直结构Si台场效应晶体管相比,本发明的圆环结构场效应晶体管可有效抑制短沟效应,达到改善器件性能的目的。 |
申请公布号 |
CN102074577A |
申请公布日期 |
2011.05.25 |
申请号 |
CN201010506129.1 |
申请日期 |
2010.10.09 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
艾玉杰;郝志华;黄如;浦双双;樊捷闻;孙帅;王润声;许晓燕 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;B82Y10/00(2011.01)I;B82Y40/00(2011.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 |
代理人 |
李稚婷 |
主权项 |
一种垂直沟道场效应晶体管,其特征在于,其沟道区为一垂直于衬底上的圆环形Si台;源端为多晶硅,位于圆环形Si台的上端;漏端位于圆环形Si台下端的外侧;栅位于圆环形Si台的外侧面;在圆环形Si台的内部填充有介质材料。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |