| 发明名称 | 一种IOB测试方法 | ||
| 摘要 | 一种IOB测试方法，涉及集成电路技术，特别涉及对FPGA的检测技术。本发明包括以下步骤：1)串联所有的IOB；2)从第一个IOB输入测试信号，检测最后一个IOB的输出信号；3)从最后一个IOB输入测试信号，检测第一个IOB的输出信号。本发明的有益效果是，测试快速、准确，效率高，包括了对bonding线的测试，保证了通过测试的器件的每个管脚是可用的，克服了现有技术的缺陷。 | ||
| 申请公布号 | CN101452050B | 申请公布日期 | 2011.05.18 |
| 申请号 | CN200810148116.4 | 申请日期 | 2008.12.30 |
| 申请人 | 成都华微电子系统有限公司 | 发明人 | 但科;曾波;侯伶俐;李文昌;冯新鹤 |
| 分类号 | G01R31/317(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/317(2006.01)I |
| 代理机构 | 成都惠迪专利事务所 51215 | 代理人 | 刘勋 |
| 主权项 | 一种IOB测试方法，其特征在于，包括以下步骤：1)通过对FPGA的配置实现IOB的内部连接，通过PCB板实现IOB的外部连接，串联所有的IOB；2)从第一个IOB输入测试信号，检测最后一个IOB的输出信号；3)从最后一个IOB输入测试信号，检测第一个IOB的输出信号；所述IOB为FPGA的输入输出块。 | ||
| 地址 | 610041 四川省成都市高新区高朋大道11号高新区科技工业园D座 | ||