| 主权项 |
一种四端口射频器件射频参数测试方法，四端口射频器件具有射频端口1、射频端口2、射频端口3、射频端口4四个端口，其特征在于，包括以下步骤：一.先设计四端口射频器件版图结构，将其中任意两个射频端口接地，接地的任意两个端口分别标示为射频端口3、射频端口4；二.采用二端口射频测试设备，将所述四端口射频器件版图结构另外两个端口射频端口1、射频端口2作为射频测试的两个端口进行二端口测试，得到二端口射频S参数，即S11_2P、S12_2P、S21_2P和S22_2P，Sij_2P是二端口从端口i到端口j的传输系数(i＝1，2；j＝1，2)；三.基于上述二端口测试所得到的四个射频S参数，推导得出四端口射频晶体管射频S参数；进行推导的数学式如下：设射频端口1、射频端口2、射频端口3所对应的三端口射频S参数分别是：S11_3P、S12_3P、S13_3P、S21_3P、S22_3P、S23_3P、S31_3P、S32_3P和S33_3P，Sij_3P是三端口从端口i到端口j的传输系数(i＝1，2，3；j＝1，2，3)，同时设射频端口1、射频端口2、射频端口3、射频端口4所对应的四端口射频S参数分别是：S11_4P、S12_4P、S13_4P、S14_4P、S21_4P、S22_4P、S23_4P、S24_4P、S31_4P、S32_4P、S33_4P、S34_4P、S41_4P、S42_4P、S43_4P和S44_4P，Sij_4P是四端口从端口i到端口j的传输系数(i＝1，2，3，4；j＝1，2，3，4)；S33_3P＝(S11_2P+S12_2P+S21_2P+S22_2P)/(4‑S11_2P‑S12_2P‑S21_2P‑S22_2P)；S32_3P＝((1+S33_3P)/2)*(1‑S12_2P‑S22_2P)；S23_3P＝((1+S33_3P)/2)*(1‑S21_2P‑S22_2P)；S22_3P＝S22_2P+(S23_3P*S32_3P)/(1+S33_3P)；S21_3P＝1‑S22_3P‑S23_3P；S12_3P＝1‑S22_3P‑S32_3P；S31_3P＝1‑S33_3P‑S32_3P；S13_3P＝1‑S23_3P‑S33_3P；S11_3P＝1‑S21_3P‑S31_3P；S44_4P＝(S11_3P+S12_3P+S13_3P+S21_3P+S22_3P+S23_3P+S31_3P+S32_3P+S33_3P‑1)/(5‑S11_3P‑S12_3P‑S13_3P‑S21_3P‑S22_3P‑S23_3P‑S31_3P‑S32_3P‑S33_3P)；S14_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S11_3P‑S12_3P‑S13_3P)；S24_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S21_3P‑S22_3P‑S23_3P)；S34_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S31_3P‑S32_3P‑S33_3P)；S41_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S11_3P‑S21_3P‑S31_3P)；S42_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S12_3P‑S22_3P‑S32_3P)；S43_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S13_3P‑S23_3P‑S33_3P)；S11_4P＝(S14_4P*S41_4P)/(1+S44_4P)+S11_3P；S12_4P＝(S14_4P*S42_4P)/(1+S44_4P)+S12_3P；S13_4P＝(S14_4P*S43_4P)/(1+S44_4P)+S13_3P；S21_4P＝(S24_4P*S41_4P)/(1+S44_4P)+S21_3P；S22_4P＝(S24_4P*S42_4P)/(1+S44_4P)+S22_3P；S23_4P＝(S24_4P*S43_4P)/(1+S44_4P)+S23_3P；S31_4P＝(S34_4P*S41_4P)/(1+S44_4P)+S31_3P；S32_4P＝(S34_4P*S42_4P)/(1+S44_4P)+S32_3P；S33_4P＝(S34_4P*S43_4P)/(1+S44_4P)+S33_3P。 |
