| 发明名称 | 一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括转动装置；还包括至少两个天线单元分别通过连接装置与转动装置相连，使得天线单元能够共轴地在同一平面内独立旋转；所述至少两个天线单元的相位中心到转动轴的距离有两种，分别为第一距离和第二距离，所述第一距离大于第二距离。本发明的优点在于；降低观测系统的复杂度，减少成本；提高系统的精确度和稳定性。 | ||
| 申请公布号 | CN101241154B | 申请公布日期 | 2011.05.18 |
| 申请号 | CN200710063609.3 | 申请日期 | 2007.02.06 |
| 申请人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明人 | 吴季;张成;刘浩 |
| 分类号 | G01R29/08(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人 | 高存秀 |
| 主权项 | 1.一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括转动装置；至少两个天线单元分别通过连接装置与转动装置相连，使得天线单元能够共轴地在同一平面内独立旋转；至少两个天线单元的相位中心到转动轴的距离不相等；所述至少两个天线单元的相位中心到转动轴的距离有两种，分别为第一距离和第二距离，所述第一距离大于第二距离；所述第二距离L<sub>m</sub>和第一距离L<sub>s</sub>满足如下公式：<img file="FSB00000353227800011.GIF" wi="597" he="249" />其中，θ<sub>H</sub>为所述天线单元的波束宽度，θ<sub>r</sub>为系统所要求的角度分辨率，λ为系统接收电磁信号的波长。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区中关村南二条1号 | ||