发明名称 |
GaN基光电子器件表面粗化的制作方法 |
摘要 |
本发明一种GaN基光电子器件表面粗化的制作方法,包括:步骤1:取一衬底;步骤2:在该衬底上依次外延生长n型层、i型层及p型层;步骤3:利用纳米加工技术,在p型层上加工形成纳米柱阵列;步骤4:在该纳米柱阵列上外延生长p型表面粗化层。 |
申请公布号 |
CN102064258A |
申请公布日期 |
2011.05.18 |
申请号 |
CN200910237781.5 |
申请日期 |
2009.11.17 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
王辉;朱建军;张书明;杨辉 |
分类号 |
H01L33/22(2010.01)I;H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0236(2006.01)I |
主分类号 |
H01L33/22(2010.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
汤保平 |
主权项 |
一种GaN基光电子器件表面粗化的制作方法,包括:步骤1:取一衬底;步骤2:在该衬底上依次外延生长n型层、i型层及p型层;步骤3:利用纳米加工技术,在p型层上加工形成纳米柱阵列;步骤4:在该纳米柱阵列上外延生长p型表面粗化层。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |