发明名称 | 基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法,该方法通过对采集到的激光时域脉形数据进行频数直方图分析,得到基于频数直方图的分布特征,然后基于该分布特征选取n阶幅值作为阈值,并由该阈值在激光时域脉形中确定一平行于X轴的阈值线,该阈值线与脉形曲线相交,存在多个交点,选取位于脉形峰值点两侧且最近邻峰值点的两交点为测量点,此两测量点间对应的时间宽度便是激光的n阶脉宽。本发明适应性好,测量有效性高,与传统的n%脉宽相比可更为准确地测量激光脉宽。 | ||
申请公布号 | CN102062639A | 申请公布日期 | 2011.05.18 |
申请号 | CN201010564589.X | 申请日期 | 2010.11.24 |
申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 王新伟;张欣;周燕;刘育梁 |
分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 周国城 |
主权项 | 一种基于频数直方图测量脉冲激光全脉宽的方法,其特征在于,该方法通过对采集到的激光时域脉形数据进行频数直方图分析,得到基于频数直方图的分布特征,然后基于该分布特征选取n阶幅值作为阈值,并由该阈值在激光时域脉形中确定一平行于X轴的阈值线,该阈值线与脉形曲线相交,存在多个交点,选取位于脉形峰值点两侧且最近邻峰值点的两交点为测量点,此两测量点间对应的时间宽度便是激光的n阶脉宽。 | ||
地址 | 100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |