发明名称 高提取效率氮化镓发光二极管的制作方法
摘要 一种高提取效率氮化镓发光二极管的制作方法,包括:步骤1:在衬底上制备氮化镓外延片;步骤2:在氮化镓外延片上制备第一层掩膜和第二层掩膜;步骤3:采用不同图形面积光刻版进行光刻,将第二层掩膜的两侧刻蚀掉,使第二层掩膜的面积小于第一层掩膜的面积;步骤4:通过双层掩膜的差异,采用ICP刻蚀的方法,将第一层掩膜和氮化镓外延片两侧刻蚀成梯形台面,该梯形台面的上部的宽度与第二层掩膜的宽度相同,该梯形台面的下部的宽度与衬底的宽度相同;步骤5:采用湿法腐蚀的方法,腐蚀掉第一层掩膜和第二层掩膜;步骤6:在氮化镓外延片上制作P电极;步骤7:采用激光剥离的方法,去掉衬底;步骤8:在P电极上制作转移衬底;步骤9:在氮化镓外延片上制作N电极,完成制备。
申请公布号 CN102064242A 申请公布日期 2011.05.18
申请号 CN201010534588.0 申请日期 2010.11.03
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 黄亚军;樊中朝;刘志强;伊晓燕;季安;王军喜
分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01L33/20(2010.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汤保平
主权项 一种高提取效率氮化镓发光二极管的制作方法,包括:步骤1:在衬底上制备氮化镓外延片;步骤2:在氮化镓外延片上制备第一层掩膜和第二层掩膜;步骤3:采用不同图形面积光刻版进行光刻,将第二层掩膜的两侧刻蚀掉,使第二层掩膜的面积小于第一层掩膜的面积;步骤4:通过双层掩膜的差异,采用ICP刻蚀的方法,将第一层掩膜和氮化镓外延片两侧刻蚀成梯形台面,该梯形台面的上部的宽度与第二层掩膜的宽度相同,该梯形台面的下部的宽度与衬底的宽度相同;步骤5:采用湿法腐蚀的方法,腐蚀掉第一层掩膜和第二层掩膜;步骤6:在氮化镓外延片上制作P电极;步骤7:采用激光剥离的方法,去掉衬底;步骤8:在P电极上制作转移衬底;步骤9:在氮化镓外延片上制作N电极,完成制备。
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