用于电子产品的晶体振荡器的频偏检测方法和装置

摘要

本发明公开了一种用于电子产品的晶体振荡器的频偏检测方法包括：对晶体振荡器在一定时间内的振荡周期进行计数；根据计数结果计算晶体振荡器的测试频偏和门限频偏；根据测试频偏和门限频偏评估晶体振荡器的质量。本发明还公开了一种用于电子产品的晶体振荡器的频偏检测装置。本发明提供了一种经济简易的方法和装置检测电子产品上晶振的频偏，避免了以往电子产品出厂抽检造成的漏检问题，解决了影响电子产品质量关键因素的晶振故障泄露，对于提升电子产品质量，增加客户满意度，降低返修成本有积极的作用。

主权项

一种用于电子产品的晶体振荡器的频偏检测方法，其特征在于，包括：对晶体振荡器在一定时间内的振荡周期进行计数；根据计数结果计算所述晶体振荡器的测试频偏和门限频偏；根据所述测试频偏和门限频偏评估所述晶体振荡器的质量。