发明名称 SiGe异质结双极晶体管的发射极制作工艺方法
摘要 本发明公开了一种SiGe异质结双极晶体管的发射极制作工艺方法,包括如下步骤:(1)采用原位掺杂生长多晶,该原位掺杂的多晶以As和P作为掺杂元素一起掺杂;(2)多晶生长完成后,冲水擦片进行清洗;(3)表面淀积一层氧化膜;(4)注入As和P;(5)去除表面的氧化膜;(6)快速热退火充分激活掺杂元素,将充分激活的多晶作为发射极。本发明在传统的SiGe异质结双极晶体管的E-B结(发射极-基极)基础上,通过优化发射极工艺,进一步提高发射效率,改善放大系数。
申请公布号 CN102064100A 申请公布日期 2011.05.18
申请号 CN200910201791.3 申请日期 2009.11.12
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 周正良;陈雄斌
分类号 H01L21/28(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I 主分类号 H01L21/28(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 王函
主权项 一种SiGe异质结双极晶体管的发射极制作工艺方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)采用原位掺杂生长多晶,该原位掺杂的多晶以As和P作为掺杂元素一起掺杂;(2)多晶生长完成后,冲水擦片进行清洗;(3)表面淀积一层氧化膜;(4)注入As和P;(5)去除表面的氧化膜;(6)快速热退火充分激活掺杂元素,将充分激活的多晶作为发射极。
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