发明名称 光学双馈送检测的方法和仪器
摘要 在一处理货币或其他片状物的仪器(1)中,货币被沿着一条传输路径传送,在那里经过传感装置(5)。通过对货币进行照射并以高分辨率测量透射光和反射光的光强,货币的透射和反射图像被捕获到。基于这些图像,实现对货币的验证(6)。验证之后,通过用二维估算对预定义的测试点组进行透射和反射光强度的估算,执行一个双馈送检测(7)。如果判定为双馈送,则该货币被拒绝(3.1)。否则,货币被接受并进行下一步处理(3.2)。由于与已知的双纸张检测方法相比,本发明采用了多维的估算方法,因此对不同污损程度的货币也能够进行可靠的双纸张检测。
申请公布号 CN1701032B 申请公布日期 2011.05.18
申请号 CN200480001105.3 申请日期 2004.03.02
申请人 塔雷瑞斯有限公司 发明人 汗斯约里·克洛克;彼得·迪尔温·埃文斯;若埃勒·埃格尔
分类号 B65H7/12(2006.01)I 主分类号 B65H7/12(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 马浩
主权项 一种在用于处理一种或多种类型片状物的仪器中进行光学双馈送检测的方法,所述片状物被照射,通过测量穿过多个所述片状物中的一个特定片状物的透射测试点(21)的透射光强,产生所述特定片状物的透射图像,以及通过测量从所述特定片状物的反射测试点(21)反射的反射光强,产生一个反射图像,其中所述透射测试点和反射测试点代表所述片状物的相应部分,其特征在于:其中,所述双馈送是通过一种二维估算方法来进行检测的,所述二维估算方法中的第一维由所述透射光强形成,所述二维估算方法中的第二维由所述反射光强形成,其中二维估算方法进一步包括确定所述测试点在所述二维空间中的位置,以及将所述位置与一个线性判定边界相比较;其中所述测试点被这样确定,使得它们位于所述片状物的禁止区以外,所述禁止区至少包括下列片状物区域中的一种:a)所述片状物上具有暗印(20),箔片,全息图或细线的区域,b)距离所述片状物边缘一个给定的最大距离之内的区域,或c)位于所述片状物每个角上的区域(23)。
地址 英国伦敦