| 发明名称 | 用于光学检查混浊介质的内部的方法和装置 | ||
| 摘要 | 提供了一种用于光学检查混浊介质的内部的方法。该方法包括下述步骤：提供宽带光（2）；空间上分离包含在所述宽带光中的多个波段（2a，2b，…，2n）；分别调制所述多个波段（2a，2b，…，2n）；将多个经调制的波段重组为频谱编码的宽带光束（11）；使用所述频谱编码的宽带光束（11）照射混浊介质（8）；使用检测器（9）检测从混浊介质（8）发出的光以及使用解调器（10）解调被检测光以提供光谱信息。 | ||
| 申请公布号 | CN102066908A | 申请公布日期 | 2011.05.18 |
| 申请号 | CN200980122849.3 | 申请日期 | 2009.06.12 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | M. B.范德马克 |
| 分类号 | G01N21/47(2006.01)I;G01N21/49(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I;G01J3/433(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/47(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李亚非;刘鹏 |
| 主权项 | 用于光学检查混浊介质的内部的方法；该方法包括下述步骤：提供宽带光（2）；空间上分离包含在所述宽带光中的多个波段（2a，2b，…，2n）；分别调制所述多个波段（2a，2b，…，2n）；将多个经调制的波段重组为频谱编码的宽带光束（11）；使用所述频谱编码的宽带光束（11）照射混浊介质（8）；使用检测器（9）检测从混浊介质（8）发出的光以及使用解调器（10）解调被检测光以提供光谱信息。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||