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一种三端口射频器件射频参数测试方法，三端口射频器件具有射频端口1、射频端口2、射频端口3三个端口，其特征在于，包括以下步骤：一.先设计三端口射频器件版图结构，将其中任意一个射频端口接地，接地的任意一个端口标示为射频端口3；二.采用二端口射频测试设备，将所述三端口射频器件版图结构另外两个端口射频端口1、射频端口2作为射频测试的两个端口进行二端口测试，得到二端口射频S参数，即S11_2P、S12_2P、S21_2P和S22_2P，Sij_2P是二端口从端口i到端口j的传输系数(i＝1，2；j＝1，2)；三.基于上述二端口测试所得到的四个射频S参数，推导得出三端口射频晶体管射频S参数：S11_3P、S12_3P、S13_3P、S21_3P、S22_3P、S23_3P、S31_3P、S32_3P和S33_3P，Sij_3P是三端口从端口i到端口j的传输系数(i＝1，2，3；j＝1，2，3)，其中：S33_3P＝(S11_2P+S12_2P+S21_2P+S22_2P)/(4‑S11_2P‑S12_2P‑S21_2P‑S22_2P)；S32_3P＝((1+S33_3P)/2)*(1‑S12_2P‑S22_2P)；S23_3P＝((1+S33_3P)/2)*(1‑S21_2P‑S22_2P)；S22_3P＝S22_2P+(S23_3P*S32_3P)/(1+S33_3P)；S21_3P＝1‑S22_3P‑S23_3P；S12_3P＝1‑S22_3P‑S32_3P；S31_3P＝1‑S33_3P‑S32_3P；S13_3P＝1‑S23_3P‑S33_3P；S11_3P＝1‑S21_3P‑S31_3P。 |
