发明名称 一种用于晶体硅太阳电池的双层钝化方法
摘要 本发明公开了一种用于晶体硅太阳电池的双层钝化方法,该方法包括以下步骤:(1)选取硅片进行清洗,以及抛光或制绒;(2)将步骤(1)所得硅片采用ALD或者PECVD方法生长Al2O3,折射率1.5-1.7,厚度10-80nm;(3)将步骤(2)所得硅片采用PECVD或者PVD方法生长SiNx,折射率1.9-2.2,厚度30-150nm;(4)将步骤(3)所得样品在温度200-600℃下,在N2或者氢气氩气混合物气氛中退火1-30分钟,得到双层钝化介质膜。本发明钝化方法可以将硅片表面复合速度降低到10cm/s以下,且可以很好的应用于晶体硅太阳电池的表面钝化,得到高的转化效率。
申请公布号 CN102064237A 申请公布日期 2011.05.18
申请号 CN201010562234.7 申请日期 2010.11.29
申请人 奥特斯维能源(太仓)有限公司 发明人 夏正月;李晓强;陶龙忠
分类号 H01L31/18(2006.01)I;C23C16/40(2006.01)I;C23C16/34(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人 徐激波
主权项 一种用于晶体硅太阳电池的双层钝化方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:(1)选取硅片进行清洗,以及抛光或制绒;(2) 将步骤(1)所得硅片采用ALD或者PECVD方法生长Al2O3,折射率1.5‑1.7,厚度10‑80 nm;(3) 将步骤(2)所得硅片采用PECVD或者PVD方法生长SiNx,折射率1.9‑2.2,厚度30‑150nm;(4)将步骤(3)所得样品在温度200‑600℃下,在N2或者氢气氩气混合物气氛中退火1‑30分钟,得到双层钝化介质膜。
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