发明名称 |
用于预测智能电子装置的维护的系统和方法 |
摘要 |
描述预测维护系统和方法。一种方法包括使用IED中的多个传感器来测量环境状况,处理环境测量以确定表示IED的历史操作状况的长期承受因素,将可靠性模型应用于长期承受因素,根据长期承受因素和可靠性模型来确定IED寿命的数值量度,将IED寿命的数值量度与预先选择的边界值进行比较,以及如果IED寿命的数值量度是否超出预先选择的边界值则发出信号。 |
申请公布号 |
CN102067049A |
申请公布日期 |
2011.05.18 |
申请号 |
CN200980123588.7 |
申请日期 |
2009.06.08 |
申请人 |
通用电气公司 |
发明人 |
B·Z·卡什滕尼;L·A·索勒奇托;J·G·马泽罗;毛志宏 |
分类号 |
G05B19/042(2006.01)I;G05B23/02(2006.01)I;G06F11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G05B19/042(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
朱海煜;卢江 |
主权项 |
一种用于预测智能电子装置(IED)的维护的方法,所述方法包括下列步骤:使用所述IED中的多个传感器来测量环境状况;处理所述环境测量,以便确定表示所述IED的历史操作状况的长期承受因素;将可靠性模型应用于所述长期承受因素;根据所述长期承受因素和所述可靠性模型来确定IED寿命的数值量度;将IED寿命的数值量度与预先选择边界值进行比较;以及如果IED寿命的数值量度超出所述预先选择边界值则发出信号。 |
地址 |
美国纽约州 |