| 发明名称 | 光学测孔装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供一种光学测孔装置，其具有同向配置的用于发出激光的激光光源和光拾取装置，还具有反光构件，所述光拾取装置用于接收被待测表面反射的来自所述激光光源的光，所述反光构件配设在所述光学测孔装置的一端，所述激光光源或光拾取装置配设在所述光学测孔装置的另一端。该装置结构简单、可非接触测量、测量效率高、测量准确。 | ||
| 申请公布号 | CN201837368U | 申请公布日期 | 2011.05.18 |
| 申请号 | CN201020201509.X | 申请日期 | 2010.05.25 |
| 申请人 | 北京理工大学 | 发明人 | 徐春广;肖定国;朱文娟;冯忠伟;郝娟;周世圆 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种光学测孔装置，其特征在于，具有同向配置的用于发出激光的激光光源和光拾取装置，还具有反光构件，所述光拾取装置用于接收被待测表面反射的来自所述激光光源的光，所述反光构件配设在所述光学测孔装置的一端，所述激光光源或光拾取装置配设在所述光学测孔装置的另一端。 | ||
| 地址 | 100081 北京市海淀区中关村南大街5号 | ||