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发明名称 Contact for Electrical Test of Electronic Devices, Method for Manufacturing the Same, and Probe Assembly
摘要
申请公布号 KR101034979(B1) 申请公布日期 2011.05.17
申请号 KR20090034848 申请日期 2009.04.22
申请人 发明人
分类号 H01L21/66;G01R1/067 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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