| 主权项 |
一种玻璃基板检测装置，其包含：一光学取像装置，设置于欲检测之玻璃基板上方，且该光学取像装置之焦距大体上调整至该玻璃基板边缘之上表面；一第一光学装置，包含一取景部及一延伸部，其中该取景部设置于该玻璃基板下方，用以撷取所述玻璃基板边缘之下方影像，该延伸部向该玻璃基板外侧延伸，用以撷取该玻璃基板边缘之下方影像，用以将所撷取之所述下方影像传输至一第三光学装置；一第二光学装置，设置于该玻璃基板侧边，用以撷取该玻璃基板边缘之侧边影像，并传输至一第四光学装置；该第三光学装置，设置于大体上相对该第一光学装置延伸之该延伸部之位置，用以引导该玻璃基板边缘之该下方影像传输至该光学取像装置；该第四光学装置，设置于大体上相对该第二光学装置之位置，用以引导该玻璃基板边缘之该侧边影像传输至该光学取像装置；其中该第三光学装置及该第四光学装置系为可调整，用以将该玻璃基板边缘之该下方影像及该玻璃基板边缘之该侧边影像传输至该光学取像装置之该焦距之景深范围中。如请求项1所述之玻璃基板检测装置，其中该光学取像装置系为摄影机，用以将所撷取之图像转换为电子讯号。如请求项1所述之玻璃基板检测装置，其中该第一光学装置系为一侧边截面大体上为倒梯形棱镜，其中该取景部系设置于该倒梯形棱镜之长底边之对应于该玻璃基板下方之一部，该延伸部系设置于该长底边向该玻璃基板外侧延伸之另一部。如请求项3所述之玻璃基板检测装置，其中该棱镜截面之两侧边各与长底边成水平相倾45度角且左右相对。如请求项3所述之玻璃基板检测装置，其中该取景部设置于该玻璃基板边缘下方，以撷取由该第一光学装置之该取景部上方入射之该玻璃基板边缘之该下方影像，并折射至该第一光学装置之该延伸部上方。如请求项1所述之玻璃基板检测装置，其中该第二光学装置系为一棱镜，用以使该第二光学装置撷取之该玻璃基板边缘之该侧边影像以折射至该第四光学装置。如请求项6所述之玻璃基板检测装置，其中该棱镜截面系为一直角三角形，该直角三角形之长边大体上呈45度角相对于该玻璃基板边缘。如请求项1所述之玻璃基板检测装置，其中该第三光学装置及该第四光学装置系各为一晶体柱。如请求项1所述之玻璃基板检测装置，其中更包含至少一照明装置。如请求项9所述之玻璃基板检测装置，其中该至少一照明装置系为同轴照明装置。如请求项9所述之玻璃基板检测装置，其中该至少一照明装置系设置于该玻璃基板上方、该玻璃基板边缘之侧边及/或该玻璃基板之下方。一种玻璃基板检测系统，包含：一光学取像模组，设置于欲检测之玻璃基板上方，且焦距大体上调整于该玻璃基板之上表面；一第一光学模组，用以撷取该玻璃基板边缘之下方影像；一第二光学模组，用以撷取该玻璃基板边缘之侧边影像；其中该第一光学模组及该第二光学模组分别引导该玻璃基板边缘之该下方影像及该玻璃基板边缘之该侧边影像传输至该光学取像模组之该焦距之景深范围中。如请求项12所述之玻璃基板检测系统，其中该光学取像模组系为摄影机，用以将所撷取之图像转换为电子讯号。如请求项12所述之玻璃基板检测系统，其中该第一光学模组包含至少一第一棱镜及/或至少一第一晶体柱。如请求项14所述之玻璃基板检测系统，其中该第一棱镜及该第一晶体柱系为一体成形。如请求项14所述之玻璃基板检测系统，其中该第一棱镜系为一侧边截面大体上为倒梯形棱镜。如请求项14所述之玻璃基板检测系统，其中该棱镜截面之两侧边各与长底边成水平相倾45度角且左右相对。如请求项14所述之玻璃基板检测系统，其中该第一棱镜包含一取景部及一延伸部，其中该取景部设置于该玻璃基板边缘下方，该延伸部设置于该玻璃基板下方并向外侧延伸，该取景部系用以撷取由该第一棱镜之该取景部上方入射之该玻璃基板边缘之该下方影像，并折射至该第一棱镜之该延伸部上方。如请求项18所述之玻璃基板检测系统，其中该第一晶体柱系设置于大体上相对该第一棱镜之该延伸部，用以引导该玻璃基板边缘之下方影像传输至该光学取像模组。如请求项12所述之玻璃基板检测系统，其中该第二光学模组包含至少一第二棱镜及/或至少一第二晶体柱。如请求项20所述之玻璃基板检测系统，其中该第二棱镜系为一棱镜，用以使该第二光学模组撷取之该玻璃基板边缘之该侧边影像折射至该第二晶体柱。如请求项20所述之玻璃基板检测系统，其中该第二棱镜之截面系为一直角三角形，该直角三角形之长边大体上呈45度角相对于该玻璃基板边缘。如请求项20所述之玻璃基板检测系统，其中该第二晶体柱系设置于该玻璃基板侧边上方，且大体上相对于该第二棱镜，用以引导该玻璃基板边缘之该侧边影像至该光学取像模组。如请求项12所述之玻璃基板检测系统，其中更包含至少一照明模组。如请求项24所述之玻璃基板检测系统，其中该照明模组包含至少一照明装置。如请求项25所述之玻璃基板检测系统，其中该照明装置系为同轴照明装置。如请求项24所述之玻璃基板检测系统，其中该至少一照明模组系设置于该玻璃基板上方、该玻璃基板边缘之侧边及/或该玻璃基板之下方。 |
