发明名称 一种沟道式电容器的制作方法
摘要 本发明公开了一种沟道式电容器的制作方法,包括:提供以Si为基底的高掺杂低阻半导体衬底,在衬底上生长一层SiO2作为掩模层、物理保护层及电学绝缘层;刻蚀SiO2至Si层,开出不同面积的电容窗口;在该窗口内通过刻蚀制备出具有沟道的基底以及P型层电极区;直接利用保留在Si衬底上的SiO2作为掩模,在硅衬底沟道表面形成一层高掺杂的n+层,在其结深处形成PN结结电容;在电容表面大面积蒸镀金属;在开出的窗口层、N型电极及P型层电极区域形成金属电极;将制备好的沟道电容在高温下退火,使其P、N两个电极上均形成良好的欧姆接触。本发明克服了介质层难于生长,费用昂贵等问题,减少了加工步骤,降低了成本。
申请公布号 CN101800165B 申请公布日期 2011.05.11
申请号 CN200910077670.2 申请日期 2009.02.11
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 吕垚;李宝霞;万里兮
分类号 H01L21/02(2006.01)I;H01L21/22(2006.01)I;H01L21/311(2006.01)I;H01L21/3065(2006.01)I;H01L29/92(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种沟道式电容器的制作方法,其特征在于,该方法包括:提供以Si为基底的高掺杂低阻半导体衬底,在衬底上生长一层SiO2作为掩模层、物理保护层以及电学绝缘层;采用光刻胶掩模并按照所需要的电容量刻蚀SiO2至Si层,开出不同面积的电容窗口;在该窗口内利用光刻胶作为掩模,通过刻蚀制备出具有沟道的基底以及P型层电极区;直接利用保留在Si衬底上的SiO2作为掩模,在硅衬底沟道表面形成一层高掺杂的n+层,在其结深处形成PN结结电容;利用蒸发或溅射在电容表面大面积蒸镀金属,用光刻胶作为掩模,使用湿法腐蚀,在开出的窗口层、N型电极及P型层电极区域形成金属电极;将制备好的沟道电容在高温下退火,使其P、N两个电极上均形成良好的欧姆接触。
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