| 发明名称 | 使用ALPG测试仪进行DP SRAM测试的装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种使用ALPG测试仪进行DualPort SRAM测试的装置，所述DP SRAM器件有两组独立的地址系统对应同一个存储空间，测试时，除最高地址位以外，所述两组独立的地址系统中其它对应的每个地址位都相互连接，两个最高地址位相互不连接，并且有效时的最高地址位电平状态相反，所述两组独立的地址系统都连接至ALPG测试仪相应的端口上。本发明避开了ALPG测试系统在测试DP SRAM时的系统限制，最大程度发挥ALPG测试系统在测试memory产品时的高效便利的特点，提高了测试效率，节省大量测试时间。 | ||
| 申请公布号 | CN102054536A | 申请公布日期 | 2011.05.11 |
| 申请号 | CN200910201776.9 | 申请日期 | 2009.11.09 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 宋鋆鋆;曾志敏 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I;G11C11/413(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 顾继光 |
| 主权项 | 一种使用ALPG测试仪进行DP SRAM测试的装置，所述DP SRAM器件有两组独立的地址系统对应同一个存储空间，其特征在于，除最高位以外，所述两组独立的地址系统中其它对应的每个位都相互连接，两个最高位相互不连接，并且有效时的电平状态相反，所述两组独立的地址系统都连接至ALPG测试仪相应的端口上。 | ||
| 地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 | ||