发明名称 划片加工性优异的QFN封装用铜合金板和QFC封装
摘要 本发明涉及划片加工性优异的QFN封装用铜合金板和QFC封装,该铜合金板含有Fe:0.01~0.50质量%、P:0.01~0.20质量%、余量为Cu和不可避免的杂质,显微维氏硬度为150以上,均匀延伸率为5%以下,且局部延伸率为10%以下,或者含有Ni:0.05~2质量%、P:0.001~0.3质量%、Zn:0.005~5质量%、余量为Cu和不可避免的杂质,显微维氏硬度为150以上、均匀延伸率为5%以下,且局部延伸率为10%以下。由于这种构成,划片加工时的导线拖曳毛边长度减小,划片用刀片磨耗降低。
申请公布号 CN101525702B 申请公布日期 2011.05.11
申请号 CN200910004105.3 申请日期 2009.02.12
申请人 株式会社神户制钢所 发明人 三轮洋介;西村昌泰;尾崎良一;桂进也
分类号 C22C9/00(2006.01)I;C22C9/04(2006.01)I;C22C9/06(2006.01)I;H01L23/495(2006.01)I 主分类号 C22C9/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 李贵亮
主权项 一种QFN封装用铜合金板,其特征在于,含有Fe:0.01~0.50质量%、P:0.01~0.20质量%,余量为Cu和不可避免的杂质,并且,显微维氏硬度为150以上,均匀延伸率为5%以下,且局部延伸率为10%以下。
地址 日本兵库县