发明名称 一种助听兼容性测试方法
摘要 本发明涉及一种助听兼容性测试方法,其包括以下步骤:提供一助听兼容性测试一体化探头;提供一待测信号源,并确定一测试区;在所述测试区上均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5的小区域;利用所述助听兼容性用探头的磁探头和电探头对所述11条经线与11条纬线的所有交点进行测量,并获得各点的磁场参数或电场参数;以及选取所述磁探头与电探头同时获得的磁场参数与电场参数以测试所述待测信号源的助听兼容性。
申请公布号 CN102056069A 申请公布日期 2011.05.11
申请号 CN200910110161.5 申请日期 2009.10.30
申请人 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 发明人 高旭;张志军;冯正和;马迪文;李展;阎勇
分类号 H04R29/00(2006.01)I 主分类号 H04R29/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种助听兼容性测试方法,其包括以下步骤:提供一助听兼容性测试一体化探头,该助听兼容性测试一体化探头包括一电路板以及间隔设置于所述电路板上的一磁探头和一电探头,所述磁探头与电探头的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的倍数;提供一待测信号源,并以该待测信号源为中心,取一边长为50毫米的正方形平面区域作为测试区;在所述50*50的测试区上均匀画出11条经线和11条纬线以将该测试区分成100个5*5的小区域,其中有两条经线和两条纬线构成所述测试区的边缘;利用所述助听兼容性用探头的磁探头和电探头对所述11条经线与11条纬线的所有交点进行测量,并获得各点的磁场参数与电场参数;以及选取所述助听兼容性测试一体化探头的磁探头与电探头获得的磁场参数与电场参数以测试所述待测信号源的助听兼容性。
地址 100084 北京市海淀区清华园1号清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室