| 发明名称 | 物位检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种物位检测装置，其用于测定待测物的物位，包括：电路基板；第一电极以及第二电极，分别以不同的面积形成在电路基板的一面和另一面；第一介电层以及第二介电层，分别以不同的厚度形成在第一电极上与第二电极上；判断部，通过电路基板与第一电极及第二电极电连接，并利用由第一电极以及第二电极测定的各测定值判断待测物的物位。根据本发明，可以不受温度等周围环境的影响而正确地检测物位。 | ||
| 申请公布号 | CN102057259A | 申请公布日期 | 2011.05.11 |
| 申请号 | CN200980120693.5 | 申请日期 | 2009.05.28 |
| 申请人 | 科恩托罗尼丝株式会社 | 发明人 | 朴龙云 |
| 分类号 | G01F23/24(2006.01)I | 主分类号 | G01F23/24(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 韩明星;金光军 |
| 主权项 | 一种物位检测装置，其用于测定待测物的物位，其特征在于，包括：电路基板；第一电极以及第二电极，分别以不同的面积形成在所述电路基板的一面和另一面；第一介电层以及第二介电层，分别以不同的厚度形成在所述第一电极上与所述第二电极上；判断部，通过所述电路基板与所述第一电极及第二电极电连接，并利用由所述第一电极以及所述第二电极测定的各测定值来判断所述待测物的物位。 | ||
| 地址 | 韩国忠清南道 | ||