| 发明名称 |
一种助听兼容性测试一体化探头 |
| 摘要 |
本发明涉及一种助听兼容性测试一体化探头，其包括一个电路板以及相互间隔设置于所述电路板上的一磁探头与一电探头。所述磁探头与电探头的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的倍数。 |
| 申请公布号 |
CN102056070A |
申请公布日期 |
2011.05.11 |
| 申请号 |
CN200910110163.4 |
申请日期 |
2009.10.30 |
| 申请人 |
清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
发明人 |
高旭;张志军;冯正和;马迪文;李展;阎勇 |
| 分类号 |
H04R29/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04R29/00(2006.01)I |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
一种助听兼容性测试一体化探头，其特征在于：该探头包括一个电路板以及相互间隔设置于所述电路板上的一磁探头与一电探头，所述磁探头与电探头的几何中心的距离大于或等于10毫米且为5毫米的倍数。 |
| 地址 |
100084 北京市海淀区清华园1号清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室 |
