发明名称 测试装置以及测试电路卡
摘要 提供一种测试装置,其配置有:激励器,其向被测试器件输出测试信号;第一FET开关,其切换激励器和被测试器件是否连接;比较器,其经第一FET开关接收被测试器件的输出信号,比较输出信号的电压和预先规定的参照电压;参照电压输入部,其把参照电压输入比较器;第二FET开关,其设置在参照电压输入部和比较器之间;虚拟电阻,其一端与比较器及第二FET开关的接点连接,另一端与规定的电压连接;激励器的输出电阻及第一FET开关的接通电阻的电阻比与虚拟电阻及第二FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。
申请公布号 CN101331404B 申请公布日期 2011.05.11
申请号 CN200680046796.8 申请日期 2006.12.13
申请人 爱德万测试株式会社 发明人 松本直木;关野隆
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人 齐永红
主权项 一种测试被测试器件的测试装置,其特征在于,配置有:激励器,其向前述被测试器件输出测试信号;第一FET开关,其切换前述激励器和前述被测试器件是否连接;比较器,其经前述第一FET开关接收前述被测试器件的输出信号,比较前述输出信号的电压和预先确定的参照电压;参照电压输入部,其把前述参照电压输入前述比较器;第二FET开关,其设置在前述参照电压输入部和前述比较器之间;虚拟电阻,其一端与前述比较器及前述第二FET开关的接点连接,另一端与规定的终端电压连接;前述激励器的输出电阻及前述第一FET开关的接通电阻的电阻比与前述虚拟电阻及前述第二FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。
地址 日本东京都