发明名称 |
直边型金属盖半导体封装 |
摘要 |
本实用新型公开了一种直边型金属盖半导体封装,涉及印刷电路板上的半导体封装,目的是解决现有技术存在的封装体强度、上表面面积存在矛盾的问题,包括安装在印刷电路基板上的芯片,还包括金属盖和金属围墙,所述金属盖和金属围墙的上端面连接,金属围墙的下端面与印刷电路基板连接,所述芯片位于金属盖和金属围墙构成的空间内,所述金属盖与金属围墙连接部位的内角为直角。 |
申请公布号 |
CN201829476U |
申请公布日期 |
2011.05.11 |
申请号 |
CN201020232782.9 |
申请日期 |
2010.06.22 |
申请人 |
宇芯(成都)集成电路封装测试有限公司 |
发明人 |
管军华 |
分类号 |
H01L23/04(2006.01)I;H01L25/00(2006.01)I;H01L21/52(2006.01)I;H01L21/48(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/04(2006.01)I |
代理机构 |
成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 |
代理人 |
詹永斌 |
主权项 |
直边型金属盖半导体封装,包括安装在印刷电路基板上的芯片,其特征在于,还包括金属盖和金属围墙,所述金属盖和金属围墙的上端面连接,金属围墙的下端面与印刷电路基板连接,所述芯片位于金属盖和金属围墙构成的空间内,所述金属盖与金属围墙连接部位的内角为直角。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新西区科新路8号附2号 |