发明名称 直边型金属盖半导体封装
摘要 本实用新型公开了一种直边型金属盖半导体封装,涉及印刷电路板上的半导体封装,目的是解决现有技术存在的封装体强度、上表面面积存在矛盾的问题,包括安装在印刷电路基板上的芯片,还包括金属盖和金属围墙,所述金属盖和金属围墙的上端面连接,金属围墙的下端面与印刷电路基板连接,所述芯片位于金属盖和金属围墙构成的空间内,所述金属盖与金属围墙连接部位的内角为直角。
申请公布号 CN201829476U 申请公布日期 2011.05.11
申请号 CN201020232782.9 申请日期 2010.06.22
申请人 宇芯(成都)集成电路封装测试有限公司 发明人 管军华
分类号 H01L23/04(2006.01)I;H01L25/00(2006.01)I;H01L21/52(2006.01)I;H01L21/48(2006.01)I 主分类号 H01L23/04(2006.01)I
代理机构 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人 詹永斌
主权项 直边型金属盖半导体封装,包括安装在印刷电路基板上的芯片,其特征在于,还包括金属盖和金属围墙,所述金属盖和金属围墙的上端面连接,金属围墙的下端面与印刷电路基板连接,所述芯片位于金属盖和金属围墙构成的空间内,所述金属盖与金属围墙连接部位的内角为直角。
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