发明名称 用于制造具有不同掺杂浓度的区域的半导体元件的方法
摘要 用于制造具有不同掺杂浓度的区域(70、72;120、122)的半导体元件(74;140)特别是太阳能电池(140)的方法,包括:在半导体元件材料(50;100)表面(56;106)上形成(2;14)阻挡一种掺杂物的扩散并在至少一个部分可被一种掺杂物渗透的层(58;108);在至少一个高掺杂区域(62;112a、112b)内至少部分地除去扩散阻挡层(58;108);在扩散阻挡层(58;108)上和在至少一个高掺杂区域(62;112a、112b)内形成掺杂物源(66;116);将来自掺杂物源(66;116)的掺杂物扩散(8;20)到半导体元件材料(50;100)中。本发明还涉及该半导体元件(74;140)在集成电路、电路、太阳能电池模块以及具有选择性发射极结构的太阳能电池(140)方面的应用。
申请公布号 CN101379595B 申请公布日期 2011.05.11
申请号 CN200780004647.X 申请日期 2007.01.19
申请人 GP太阳能有限公司 发明人 彼得·法斯;艾哈尔·米尔因克
分类号 H01L21/225(2006.01)I;H01L27/142(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I 主分类号 H01L21/225(2006.01)I
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人 寿宁
主权项 一种用于制造具有不同掺杂浓度的区域(70,72;120,122)的半导体元件(74;140)的方法,所述方法包括以下步骤:在半导体元件材料(50;100)的表面的至少一个部分(56;106)上形成(2;14)扩散阻挡层(58;108),该层(58;108)阻挡一种掺杂物的扩散并可被所述掺杂物渗透;在至少一个将要形成高掺杂区域的区域(62;112a、112b)内至少部分地除去(4;16a、16b)所述扩散阻挡层(58;108);在所述扩散阻挡层(58;108)上和所述至少一个将要形成高掺杂区域的区域(62;112a、112b)内形成(6;18)一个掺杂物源(66;116);使来自所述掺杂物源(66;116)的所述掺杂物扩散(8;20)到所述半导体元件材料(50;100)中,形成所述具有不同掺杂浓度的区域(70,72;120,122),其特征在于:所述扩散阻挡层(108)为多孔层(108),所述多孔层(108)的厚度小于200nm。
地址 德国康斯坦察