space transformer of probe card for electrical tester of semiconductor wafer and manufacturing method therefor,申请号KR20090050103-传众专利搜索

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发明名称	space transformer of probe card for electrical tester of semiconductor wafer and manufacturing method therefor
摘要
申请公布号	KR101033400(B1)	申请公布日期	2011.05.09
申请号	KR20090050103	申请日期	2009.06.05
申请人		发明人
分类号	H01L21/66;G01R1/067	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
地址

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