| 发明名称 | 便于拾取TEM样品的样品台 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种便于拾取TEM样品的样品台，包括样品台，样品台的一端设有固定座，固定座的顶面设有凹槽，凹槽内设置有样品台玻璃针，固定座的顶部设有固定盖，固定盖与固定座通过螺丝旋钮连接，将样品台玻璃针连接于固定座上。本实用新型能够大幅提高TEM样品拾取的成功率，避免了丢失样品的可能，同时避免了由于样品的丢失而无法进行下一步分析，造成工程延后的严重后果。 | ||
| 申请公布号 | CN201819918U | 申请公布日期 | 2011.05.04 |
| 申请号 | CN201020551078.X | 申请日期 | 2010.09.30 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 芮志贤;赖华平 |
| 分类号 | G01Q30/20(2010.01)I;G01N1/36(2006.01)I | 主分类号 | G01Q30/20(2010.01)I |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 张骥 |
| 主权项 | 一种便于拾取TEM样品的样品台，其特征在于：包括样品台，样品台的一端设有固定座，固定座的顶面设有凹槽，凹槽内设置有样品台玻璃针，固定座的顶部设有固定盖，固定盖与固定座通过螺丝旋钮连接，将样品台玻璃针连接于固定座上。 | ||
| 地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 | ||