发明名称 测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法
摘要 本发明公开了一种测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法,针对多芯片同时测定时要求每个芯片中写入的用户码数据都不一样的情况,在进行数据下载时,将需要下载的数据先存储到测试仪的数字波形发生器中,通过数字波形发生器与不同芯片测试通道的链接,调用SQPG测试向量将连接到的资源里的这些代码数据写到指定芯片的存储单元中,能保证同测时不同的芯片有不同的数据。本发明的方法通过对测试仪模拟测试单元硬件的独特运用能让测试仪更快的对芯片中的存储单元写入任意数据。
申请公布号 CN101458294B 申请公布日期 2011.05.04
申请号 CN200710094413.0 申请日期 2007.12.10
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 黄海华
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I;G01R31/3183(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 周赤
主权项 一种测试仪对多个芯片测试时芯片内用户码下载方法,测试仪包括测试控制单元、硬盘、序列图形发生器、数字波形发生器,其特征在于,包括以下步骤:(1).建立一个数组对应各枚芯片的用户码的数据文件号;(2).读取数组,决定调用哪个数据文件;(3).将所述数据文件转换成2进制格式并存到数字波形发生器中;(4).设定数字波形发生器与多个芯片测试通道的链接,所述数字波形发生器是个多比特的存储器,将不同芯片的测试通道链接到数字波形发生器的不同比特位;(5).通过调用序列图形发生器测试向量将数字波形发生器中的数据根据芯片的存储单元的写命令格式写入到各个相应的待测芯片的存储单元中。
地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号