| 发明名称 | 分析位置的方法与装置 | ||
| 摘要 | 本发明是有关于一种分析位置的方法与装置。借由对包括至少一零交会处的感测资讯进行一分析，可分析出与零交会处不同数量的多个位置。当被分析出来的位置数量不同于零交会处的数量时，分析出来的位置数量为多个。 | ||
| 申请公布号 | CN102043511A | 申请公布日期 | 2011.05.04 |
| 申请号 | CN201010502660.1 | 申请日期 | 2010.10.08 |
| 申请人 | 禾瑞亚科技股份有限公司 | 发明人 | 张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆 |
| 分类号 | G06F3/041(2006.01)I | 主分类号 | G06F3/041(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人 | 寿宁;张华辉 |
| 主权项 | 一种分析位置的方法，其特征在于包括：取得一感测资讯；依据一正门槛判断该感测资讯中是否存在大于正门槛的正值；依据一负门槛判断该感测资讯中是否存在小于负门槛的负值；以及当存在大于正门槛的正值与小于负门槛的负值时判断位于大于正门槛的正值与小于负门槛的负值间的零交会处。 | ||
| 地址 | 中国台湾台北市内湖区瑞光路302号11楼 | ||