发明名称 |
测量附加最大功率衰减的方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种测量附加最大功率衰减的方法及装置,其中所述方法包括:发送模块向被测终端发送测试指示信号,被测终端根据测试指示信号发射上行信号;接收模块接收上行信号,测量被测终端的发射功率;若发射功率符合标准,则进一步测量被测终端的频谱发射参数;若频谱发射参数符合标准,则被测终端测试合格;若频谱发射参数不符合标准,则发送模块指示被测终端降低发射功率;接收模块测量频谱发射参数,若频谱发射参数符合标准,并且降低的发射功率在标准的附加最大功率衰减范围内,而且发射功率符合标准,则被测终端测试合格,否则,测试不合格。本发明能够高效地测量附加最大功率衰减。 |
申请公布号 |
CN102045755A |
申请公布日期 |
2011.05.04 |
申请号 |
CN200910207625.4 |
申请日期 |
2009.10.15 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
刘卫刚 |
分类号 |
H04W24/08(2009.01)I;H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04W24/08(2009.01)I |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 |
代理人 |
王艺;龙洪 |
主权项 |
一种测量附加最大功率衰减的方法,包括:发送模块向被测终端发送测试指示信号,被测终端根据接收到的测试指示信号发射上行信号;接收模块接收所述上行信号,并根据所述上行信号测量被测终端的发射功率;若被测终端的发射功率符合标准,则接收模块进一步根据所述上行信号测量被测终端的频谱发射参数;若所述频谱发射参数符合标准,则所述被测终端测试合格;若所述频谱发射参数不符合标准,则发送模块指示被测终端降低发射功率;接收模块测量频谱发射参数,若频谱发射参数符合标准,并且被测终端降低的发射功率在标准的附加最大功率衰减范围内,而且发射功率符合标准,则所述被测终端测试合格,否则,测试不合格。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 |