发明名称 |
一种片上系统芯片验证的方法和装置 |
摘要 |
本发明涉及SoC芯片领域,特别涉及一种SoC芯片验证的方法和装置,用以解决现有技术中对同一个SoC芯片不同功能进行验证时,每次验证都需要重新编译,增加了随机向量产生和控制的难度的问题。本发明实施例的方法包括:设定SoC芯片的配置文件,配置文件包括SoC芯片的基本信息和SoC芯片中模块的约束条件;根据收到的指令,确定需要验证的SoC芯片的功能所涉及的模块;根据基本信息、确定的模块的约束条件以及指令中的模块功能数据,生成随机测试向量;根据随机测试向量,对SoC芯片进行验证。本发明实施例能够减少构建验证系统的复杂度和维护难度,增强验证部件的重用性,降低验证难度,节省时间。 |
申请公布号 |
CN101515301B |
申请公布日期 |
2011.05.04 |
申请号 |
CN200810026504.5 |
申请日期 |
2008.02.23 |
申请人 |
炬力集成电路设计有限公司 |
发明人 |
张奇;李新辉 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种片上系统SoC芯片验证的方法,其特征在于,设定SoC芯片的配置文件,所述配置文件包括SoC芯片的基本信息和SoC芯片中模块的约束条件,该方法包括:根据收到的指令,确定需要验证的所述SoC芯片的功能所涉及的模块;根据所述基本信息、确定的所述模块的所述约束条件以及所述指令中的模块功能数据,生成随机测试向量;根据所述随机测试向量,对所述SoC芯片进行验证。 |
地址 |
519085 广东省珠海市唐家湾镇哈工大路1号15栋1单元1号 |