发明名称 老化测试系统
摘要 一种老化测试系统,包括老化板和老化测试装置,所述老化板包括:第一接口件,适于与所述老化测试装置相连接,实现与所述老化测试装置之间信号的输入和/或输出;第二接口件,适于与待测器件相连接,实现与所述待测器件之间信号的输入和/或输出;其中,所述老化测试系统还包括:引脚匹配单元,与所述老化板活动连接,适于根据所述待测器件的引脚定义,调整所述第一接口件与第二接口件中信号的对应连接关系。本发明能够实现采用同一块老化板对具有相同引脚数量、但不同引脚定义的不同待测器件进行老化测试,与现有老化板相兼容,提高了生产效率,并节约了成本。
申请公布号 CN102043100A 申请公布日期 2011.05.04
申请号 CN200910196931.2 申请日期 2009.10.09
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 张荣哲;简维廷;江顺旺
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 李丽
主权项 一种老化测试系统,包括老化板和老化测试装置,所述老化板包括:第一接口件,适于与所述老化测试装置相连接,实现与所述老化测试装置之间信号的输入和/或输出;第二接口件,适于与待测器件相连接,实现与所述待测器件之间信号的输入和/或输出;其特征在于,所述老化测试系统还包括:引脚匹配单元,与所述老化板活动连接,适于根据所述待测器件的引脚定义,调整所述第一接口件与第二接口件中信号的对应连接关系。
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