发明名称 | 利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置 | ||
摘要 | 本发明一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置,其包含有:一选项只读存储器,接收且执行一实体要求指令;一坏扇区记录表,设置于该选项只读存储器中,执行该选项只读存储器的实体要求指令,提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器;一硬盘固件,于坏扇区设置信息范围之外,提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。利用该坏轨扇区记录表来模拟坏扇区的区块内的数据,不必真实对硬盘写入任何数据及制作真实坏扇区的区块,故可提高逻辑磁盘的测试速度。 | ||
申请公布号 | CN102044278A | 申请公布日期 | 2011.05.04 |
申请号 | CN200910204317.6 | 申请日期 | 2009.10.12 |
申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 陈重江 |
分类号 | G11B20/18(2006.01)I | 主分类号 | G11B20/18(2006.01)I |
代理机构 | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人 | 孙皓晨 |
主权项 | 一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的装置,其特征在于,包含有:一选项只读存储器,接收且执行一实体要求指令;一坏扇区记录表,设置于该选项只读存储器中,执行该选项只读存储器的实体要求指令,提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器;以及一硬盘固件,在坏扇区设置信息范围之外,提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。 | ||
地址 | 中国台湾台北市 |