发明名称 | 晶片晶背研磨工艺 | ||
摘要 | 本发明提供一种晶片晶背研磨工艺。首先提供第一组件与第二组件,该第一组件包括第一半导体晶片,而该第二组件包括第二半导体晶片,其中该第一、第二组件利用介于该第一、第二半导体晶片的有源面之间的至少一热融胶膜粘合在一起,接着利用该第二组件作为载具,研磨该第一半导体晶片的晶背,然后研磨该第二半导体晶片的晶背。 | ||
申请公布号 | CN102039556A | 申请公布日期 | 2011.05.04 |
申请号 | CN200910246347.3 | 申请日期 | 2009.11.27 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 陈仁君 |
分类号 | B24B37/04(2006.01)I | 主分类号 | B24B37/04(2006.01)I |
代理机构 | 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 | 代理人 | 刘云贵 |
主权项 | 一种晶片晶背研磨工艺,包含有:提供待处理工作件,其包含有第一组件与第二组件,该第一组件包括第一半导体晶片,而该第二组件包括第二半导体晶片,其特征在于该第一、第二组件利用介于该第一、第二半导体晶片的有源面之间的至少一热融胶膜粘合在一起;将该待处理工作件上载至晶片研磨机台中;利用该第二组件作为载具,研磨该第一半导体晶片的晶背;研磨该第二半导体晶片的晶背;以及将该待处理工作件从该晶片研磨机台卸载下来。 | ||
地址 | 中国台湾桃园县 |