发明名称 晶片晶背研磨工艺
摘要 本发明提供一种晶片晶背研磨工艺。首先提供第一组件与第二组件,该第一组件包括第一半导体晶片,而该第二组件包括第二半导体晶片,其中该第一、第二组件利用介于该第一、第二半导体晶片的有源面之间的至少一热融胶膜粘合在一起,接着利用该第二组件作为载具,研磨该第一半导体晶片的晶背,然后研磨该第二半导体晶片的晶背。
申请公布号 CN102039556A 申请公布日期 2011.05.04
申请号 CN200910246347.3 申请日期 2009.11.27
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 陈仁君
分类号 B24B37/04(2006.01)I 主分类号 B24B37/04(2006.01)I
代理机构 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 代理人 刘云贵
主权项 一种晶片晶背研磨工艺,包含有:提供待处理工作件,其包含有第一组件与第二组件,该第一组件包括第一半导体晶片,而该第二组件包括第二半导体晶片,其特征在于该第一、第二组件利用介于该第一、第二半导体晶片的有源面之间的至少一热融胶膜粘合在一起;将该待处理工作件上载至晶片研磨机台中;利用该第二组件作为载具,研磨该第一半导体晶片的晶背;研磨该第二半导体晶片的晶背;以及将该待处理工作件从该晶片研磨机台卸载下来。
地址 中国台湾桃园县