发明名称 Electrostatic beam deflection scanner and beam deflection scanning method
摘要
申请公布号 EP1863065(B1) 申请公布日期 2011.05.04
申请号 EP20070109255 申请日期 2007.05.30
申请人 SEN CORPORATION, AN SHI AND AXCELIS COMPANY 发明人 TSUKIHARA, MITSUKUNI;KABASAWA, MITSUAKI;AMANO, YOSHITAKA;MATSUHITA, HIROSHI
分类号 H01J37/317;H01J37/147;H01J37/153 主分类号 H01J37/317
代理机构 代理人
主权项
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