发明名称 一种回转体突变截面轴向尺寸测量方法
摘要 本发明属于测量仪器制造及测量技术领域,特别是一种回转体突变截面轴向尺寸高精度自动测量方法。其原理是利用高精度线阵CCD光学成像技术和高精密运动控制技术,通过对回转体纵截面轮廓线的快速测量得到回转体的轮廓数据,计算回转体轮廓线的曲率变化,求取轮廓线上曲率变化的局部极值点,得到突变截面的轴向位置,从而计算出突变截面的轴向尺寸。该方法适用于对各种复杂回转体零件中沟槽、台阶及锥台等轴向尺寸的快速测量,尤其适用于具有小间距的沟槽以及采用接触法不容易测量的回转体零件。
申请公布号 CN101571378B 申请公布日期 2011.05.04
申请号 CN200910148328.7 申请日期 2009.06.16
申请人 北京理工大学 发明人 徐春广;孟凡武;郝娟;肖定国;周世圆;贾玉平;赵新玉;冯忠伟;尚妍
分类号 G01B11/02(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I;G01B11/03(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种回转体突变截面轴向尺寸高精度自动测量方法,其特征在于:采用高精度线阵CCD光学成像技术和高精密运动控制技术,测量回转体纵截面的二维轮廓曲线,通过计算轮廓数据的离散曲率,求取回转体轮廓沿轴向方向的曲率特征点,得到突变截面的轴向位置,测得突变截面的轴向尺寸,其具体步骤是:①.采用高精度线阵CCD光学成像技术和高精密运动控制技术,依次测量回转体沿轴向位置的轮廓径向尺寸,得到两条截面轮廓曲线;②.求取两条截面轮廓曲线的中心线,也就确定了回转体轮廓的轴向方向;以该中心线为坐标轴,选择其上的一点为原点,建立新的直角坐标系,将与高精度线阵CCD传感器移动方向平行的坐标系下的测量数据进行坐标转换,得到新直角坐标系下的轮廓数据;③.计算回转体轮廓曲线各点的离散曲率;④.计算轴向方向上曲率变化大于规定阈值的特征点,该特征点就是回转体突变截面的轴向位置;⑤.计算各个特征点的相对距离,求出突变截面的轴向尺寸。
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