发明名称 硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法
摘要 硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法,提供了一种补偿图形的拓扑结构,由此拓扑结构可以产生出多种多样的直角形式凸角补偿图形,对于硅(100)衬底上制作的含有直角形式凸角,且该直角由两条<110>晶向为直边构成的目标器件结构,其直角补偿图形生成的过程由两个步骤实现:首先建立直角补偿图形的拓扑结构,然后根据直角补偿图形生成方法产生具体的直角补偿图形。硅的各向异性腐蚀技术是指在硅的腐蚀过程中,硅的不同晶面具有不同的腐蚀速率,采用硅各向异性腐蚀技术能够制造许多种微机电系统(MEMS)结构。本发明具有理论原理清晰,具体补偿生成方便、灵活的优点。同时,因为本发明所提供的技术方法具有明确的技术路径,非常适合应用到计算机辅助设计系统中。
申请公布号 CN101510509B 申请公布日期 2011.04.27
申请号 CN200910030067.9 申请日期 2009.03.30
申请人 东南大学 发明人 李伟华;张涵
分类号 H01L21/306(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/306(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 叶连生
主权项 一种硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法,其特征是,对于硅(100)衬底上制作的含有直角形式凸角,且该直角由两条<110>晶向为直边构成的目标器件结构,其直角补偿图形生成的过程由两个步骤实现:首先建立直角补偿图形的拓扑结构,然后根据直角补偿图形生成方法产生具体的直角补偿图形;直角补偿图形拓扑结构是由硅(100)衬底表面存在的4个不同方向<310>族晶向的8条直线交织构成的网格,每一个方向<310>族晶向直线为2条,以被补偿直角顶点对称,直角补偿图形拓扑结构共由8条直线组成;每条<310>族晶向直线到被补偿直角顶点的距离d由腐蚀深度和具体工艺决定,每个被补偿直角由<110>族晶向的直线构成;具体直角补偿图形,采用下述的两个方法生成:a.补偿图形是由直角的两条直边和部分或全部<310>族晶向的直线所围成的多边形,要求该多边形的外轮廓不能包含由两条不同方向的<310>族晶向直线所形成的凹角,也不能包含由直角边与<310>族晶向直线所形成的锐角;或b.补偿图形是由<110>族晶向直线所围成的多边形,除被补偿直角的边与其他表示<110>晶向的直线所形成凸角外,要求该多边形的所有凸角顶点都落在<310>族晶向直线上,不允许任何<310>族晶向的直线和补偿图形相交两次或两次以上。
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