发明名称 封装结构以及封装制程
摘要 本发明公开了一种封装结构以及封装制程,其中封装结构包括线路基板、第一晶片模组、第二晶片模组以及封装胶体。线路基板具有承载表面,而第一晶片模组与第二晶片模组相邻地配置于承载表面上。第一晶片模组具有多个第一对外接点,所述第一对外接点具有一第一间距。第二晶片模组具有多个第二对外接点,所述第二对外接点之间具有一第二间距,且第一间距大于第二间距。封装胶体配置于承载表面上,并且覆盖第一晶片模组以及第二晶片模组,且封装胶体具有多个第一开孔以及多个第二开孔。第一开孔分别暴露出第一对外接点,而第二开孔分别暴露出第二对外接点。
申请公布号 CN102034798A 申请公布日期 2011.04.27
申请号 CN200910174516.7 申请日期 2009.09.28
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 孙余青;吴发豪;陈光雄
分类号 H01L25/00(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I;H01L21/58(2006.01)I 主分类号 H01L25/00(2006.01)I
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人 刘芳
主权项 一种封装结构,包括:一线路基板,具有一承载表面;一第一晶片模组,配置于该承载表面上,该第一晶片模组具有多个第一对外接点,且每两相邻的第一对外接点之间具有一第一间距;一第二晶片模组,该第一晶片模组与该第二晶片模组相邻地配置于该承载表面上,该第二晶片模组具有多个第二对外接点,且每两相邻的第二对外接点之间具有一第二间距,其中该第一间距大于该第二间距;以及,一封装胶体,配置于该承载表面上,该封装胶体覆盖该第一晶片模组以及该第二晶片模组,且该封装胶体具有多个第一开孔以及多个第二开孔,所述第一开孔分别暴露出所述第一对外接点,而所述第二开孔分别暴露出所述第二对外接点。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号