用于测量电路的电气性能的方法和系统

摘要

一种用于电气测量的系统，所述系统包括：第一支撑结构；连接至所述第一支撑结构的电插入器的第一阵列；其中，所述第一阵列的每个电插入器具有第一端和第二端，所述第一端连接至第一电路，所述第二端设置成当电插入器被压到所述被测设备的点上时与所述被测设备的点相接触；其中，所述第一阵列的多个电插入器设置成其当被压到所述被测设备上时，改变所述第一阵列的所述多个电插入器的第二端和所述第一支撑结构之间的高度差；并且其中所述第一电路设置成将所述电插入器的第一阵列电耦合至处理单元，所述处理单元设置成测量被测设备的至少一个电气参数。

主权项

一种用于电气测量的系统，包括：第一支撑结构；连接至所述第一支撑结构的电插入器的第一阵列；其中，所述第一阵列的每个电插入器具有连接至第一电路的第一端以及设置成当电插入器被压到被测设备的点上时与所述被测设备的点相接触的第二端；其中，所述第一阵列的多个电插入器设置成当被压到所述被测设备上时，改变所述第一阵列的所述多个电插入器的第二端和所述第一支撑结构之间的高度差；其中，所述电插入器的第一阵列成形为与被测设备的感兴趣的点接触，而不考虑与所述被测设备的设计；并且其中，所述第一电路设置成将所述电插入器的第一阵列电耦合至处理单元，所述处理单元设置成测量被测设备的至少一个电气参数。