发明名称 一种基于扫描链的存储器测试方法
摘要 一种基于扫描链的存储器测试方法,首先,Tetramax的第一个测试向量通常都是只带串行移位,如果通过了这个测试向量,则测试将转向带并行捕获模式的向量;而如果扫描链的端口有错误,则需要鉴别错误发生的端口或类型;利用并行捕获模式,采用二分法植入调试向量;观察移位向量的调试输出,不断用二分法细化,直到准确定位到失效的寄存器。本发明通过并行捕获的功能,可以在扫描链中根据需要安插测试向量,从而能够快速有效地定位串行移位出错的位置,从而大大提高了测试的覆盖率。
申请公布号 CN102034556A 申请公布日期 2011.04.27
申请号 CN201010555391.5 申请日期 2010.11.23
申请人 福州瑞芯微电子有限公司 发明人 杨伟建
分类号 G11C29/44(2006.01)I 主分类号 G11C29/44(2006.01)I
代理机构 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人 翁素华
主权项 一种基于扫描链的存储器测试方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤100:Tetramax生成扫描链测试向量;步骤200:开始第一个测试向量;步骤300:串行移位输入;步骤400:串行移位输出;步骤500:判断是否正确 是,转入步骤600;否,转入步骤700;步骤600:测试其他的带并行捕获的向量;步骤700:鉴别错误发生的端口或类型;步骤800:利用并行捕获模式,采用二分法植入调试向量;步骤900:观察移位向量的调试输出,不断用二分法细化,直到准确定位到失效的寄存器。
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