发明名称 |
一种基于扫描链的存储器测试方法 |
摘要 |
一种基于扫描链的存储器测试方法,首先,Tetramax的第一个测试向量通常都是只带串行移位,如果通过了这个测试向量,则测试将转向带并行捕获模式的向量;而如果扫描链的端口有错误,则需要鉴别错误发生的端口或类型;利用并行捕获模式,采用二分法植入调试向量;观察移位向量的调试输出,不断用二分法细化,直到准确定位到失效的寄存器。本发明通过并行捕获的功能,可以在扫描链中根据需要安插测试向量,从而能够快速有效地定位串行移位出错的位置,从而大大提高了测试的覆盖率。 |
申请公布号 |
CN102034556A |
申请公布日期 |
2011.04.27 |
申请号 |
CN201010555391.5 |
申请日期 |
2010.11.23 |
申请人 |
福州瑞芯微电子有限公司 |
发明人 |
杨伟建 |
分类号 |
G11C29/44(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/44(2006.01)I |
代理机构 |
福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 |
代理人 |
翁素华 |
主权项 |
一种基于扫描链的存储器测试方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤100:Tetramax生成扫描链测试向量;步骤200:开始第一个测试向量;步骤300:串行移位输入;步骤400:串行移位输出;步骤500:判断是否正确 是,转入步骤600;否,转入步骤700;步骤600:测试其他的带并行捕获的向量;步骤700:鉴别错误发生的端口或类型;步骤800:利用并行捕获模式,采用二分法植入调试向量;步骤900:观察移位向量的调试输出,不断用二分法细化,直到准确定位到失效的寄存器。 |
地址 |
350000 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼 |