发明名称 交流磁光调制大角度检测装置及方法
摘要 本发明基于交流磁光调制及频谱分析的原理,首次提出利用频谱分析的方法实现了对大于π/2的交流磁光调制大角度进行检测,解决了交流磁光调制大角度检测的难题和增强了检测的便捷性。具体检测步骤如下:1)搭建如图所示的检测光路;2)给交流磁光调制器3通以交流电实现交流磁光调制;3)由频谱分析仪显示光电探测器接收的光强信号频谱结构;4)在频谱结构图中的“单调下降区域”中读取各频谱分量的幅度值。5)在图2中找到与“单调下降区域”中各频谱分量对应的频谱分量,从而可以根据已读取的各频谱分量的幅度值最终唯一的确定调制角度。
申请公布号 CN102032880A 申请公布日期 2011.04.27
申请号 CN201010547962.0 申请日期 2010.11.17
申请人 南京邮电大学 发明人 沈骁;梁忠诚
分类号 G01B11/26(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I;G01R33/02(2006.01)I;G01N27/72(2006.01)I;G02F1/09(2006.01)I 主分类号 G01B11/26(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 叶连生
主权项 一种交流磁光调制大角度检测装置,其特征在于该检测装置包括顺序且同轴线设置的激光或准直光源(1)、起偏器(2)、交流磁光调制器(3)、检偏器(4)、光电探测器(5)、频谱分析仪(6);其中,交流磁光调制器(3)由内置磁光介质的通电螺线管组成,磁光介质为高维尔德常数,使得交流磁光调制角度大于π/2,通电螺线管通以交流电i=i0sinωt用以产生交变磁场;检偏器(4)和起偏器(2)偏振方向互相垂直。
地址 210003 江苏省南京市新模范马路66号