发明名称 |
确定自动光学检测设备性能的方法及标准片 |
摘要 |
本发明公开了一种确定自动光学检测设备性能的方法及标准片,以提高对印刷电路板进行检测的准确性。方法包括:提供包含至少一个预设电路的标准片,在预设电路上设置有至少一个预设缺陷;通过自动光学检测AOI设备对所述标准片进行检测,并通过所述AOI设备确定出所述标准片中存在的实测缺陷;将AOI设备检测出的实测缺陷与预设缺陷进行比较,并根据比较结果确定是否对所述AOI设备进行校正。采用本发明技术方案,确保AOI设备检测准确性与稳定性,提高对PCB板进行检测的准确性。 |
申请公布号 |
CN102033073A |
申请公布日期 |
2011.04.27 |
申请号 |
CN201010592740.0 |
申请日期 |
2010.12.08 |
申请人 |
北大方正集团有限公司;重庆方正高密电子有限公司 |
发明人 |
李太均 |
分类号 |
G01N21/956(2006.01)I;H05K3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/956(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
郭润湘 |
主权项 |
一种确定自动光学检测AOI设备性能的方法,其特征在于,包括:提供包含至少一个预设电路的标准片,在预设电路上设置有至少一个预设缺陷;通过AOI设备对所述标准片进行检测,并通过所述AOI设备检测出所述标准片中存在的实测缺陷;将所述实测缺陷与所述预设缺陷进行比较,用以根据比较结果确定是否对所述AOI设备进行校正。 |
地址 |
100871 北京市海淀区成府路298号方正大厦9层 |