晶体管半桥电路的中点电压检测器件

摘要

本发明描述了包括第一和第二晶体管的晶体管半桥电路的中点电压检测器件；所述半桥连接于电源电压与参考电压之间并且被适配用以驱动负载。所述第一和第二晶体管被驱动以使所述中点电压经历从低电压值到高电压值的转换和反向的转换；所述电路包括自举电容器，其两个端子分别与所述中点节点以及其供电电路相连。所述检测器件包括另外的电容器，其被适配为连接于自举电容器的所述另一端子与电路装置之间，所述电路装置从电流角度而言构成低阻抗节点。所述器件包括检测装置，其被适配用以检测在所述另外的电容器中流通的电流信号，并且被适配用以根据所述电流信号输出至少一个指示所述中点电压从低值到高值或从高值到低值的转换的第一信号。

主权项

一种晶体管(M1、M2)半桥电路的中点电压(Va)的检测器件，所述半桥电路包括：第一(M1)晶体管和第二(M2)晶体管，所述半桥被连接于电源电压(Vcc)与参考电压(GND)之间并且被适配用以驱动负载(LOAD)，所述第一晶体管和第二晶体管被驱动以使所述中点电压(Va)经历从低电压值(LW)到高电压值(HW)的转换以及反向的转换，所述半桥电路包括自举电容器(Cboot)，所述自举电容器具有与所述中点节点相连的一个端子以及与所述自举电容器的供电电路(15)相连的另一端子，所述检测器件的特征在于：所述检测器件包括被适配连接于所述自举电容器的所述另一端子与电路装置(12，Cpump、Q3、Q4)之间的另外的电容器(Cgd)，所述电路装置(12)被适配用以针对在所述中点电压(Va)从低值到高值以及从高值到低值的转换过程中在所述另外的电容器(Cgd)中流通的电流信号(Isink、Isource)构成低阻抗节点；所述检测器件还包括检测装置(10)，其被适配用以检测在所述另外的电容器中流通的所述电流信号，并且被适配用以根据所述电流信号输出至少一个指示出所述中点电压从低值到高值或者从高值到低值的转换的第一信号(HL_comm、LH_comm)。