发明名称 成像和显影正性工作可成像元件的方法
摘要 一种制造例如平版印刷版的成像元件的方法,通过成像曝光红外辐射-敏感正性工作可成像元件来提供曝光的和未曝光的区域。使用pH为9至11.5并且含有碳酸盐离子和至少1wt%的一种或多种阴离子表面活性剂的单一处理溶液,仅主要去除曝光的区域,形成图像和在成像表面上形成保护涂层,使成像元件显影。可成像元件包括基材和辐射吸收化合物,并且在基材上具有可成像层,所述可成像层包括显影增强化合物和聚(乙烯醇缩醛),其中聚(乙烯醇缩醛)的重复单元的至少25mol%包括侧挂硝基-取代的苯酚基。
申请公布号 CN102036821A 申请公布日期 2011.04.27
申请号 CN200980118635.9 申请日期 2009.05.14
申请人 伊斯曼柯达公司 发明人 M·勒瓦农;M·纳卡什
分类号 B41C1/10(2006.01)I;B41M5/36(2006.01)I;G03F7/039(2006.01)I;G03F7/32(2006.01)I 主分类号 B41C1/10(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 范赤;李连涛
主权项 一种制造成像元件的方法,包括:A)成像曝光红外辐射敏感的正性工作可成像元件,该可成像元件包括基材和红外辐射敏感化合物,并且所述基材上具有包括显影性增强化合物和聚(乙烯醇缩醛)的可成像层,其中聚(乙烯醇缩醛)的重复单元的至少25mol%包括侧挂硝基‑取代的苯酚基,以提供已曝光和未曝光区域,和B)向所述成像曝光的元件施涂pH为9至11.5的单一处理溶液,(1)仅主要去除已曝光区域,和(2)在所得平版印刷版的全部所述未曝光和已曝光区域上提供保护涂层,所述单一处理溶液包括碳酸盐和至少1wt%的一种或多种阴离子表面活性剂。
地址 美国纽约州