发明名称 |
成像和显影正性工作可成像元件的方法 |
摘要 |
一种制造例如平版印刷版的成像元件的方法,通过成像曝光红外辐射-敏感正性工作可成像元件来提供曝光的和未曝光的区域。使用pH为9至11.5并且含有碳酸盐离子和至少1wt%的一种或多种阴离子表面活性剂的单一处理溶液,仅主要去除曝光的区域,形成图像和在成像表面上形成保护涂层,使成像元件显影。可成像元件包括基材和辐射吸收化合物,并且在基材上具有可成像层,所述可成像层包括显影增强化合物和聚(乙烯醇缩醛),其中聚(乙烯醇缩醛)的重复单元的至少25mol%包括侧挂硝基-取代的苯酚基。 |
申请公布号 |
CN102036821A |
申请公布日期 |
2011.04.27 |
申请号 |
CN200980118635.9 |
申请日期 |
2009.05.14 |
申请人 |
伊斯曼柯达公司 |
发明人 |
M·勒瓦农;M·纳卡什 |
分类号 |
B41C1/10(2006.01)I;B41M5/36(2006.01)I;G03F7/039(2006.01)I;G03F7/32(2006.01)I |
主分类号 |
B41C1/10(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
范赤;李连涛 |
主权项 |
一种制造成像元件的方法,包括:A)成像曝光红外辐射敏感的正性工作可成像元件,该可成像元件包括基材和红外辐射敏感化合物,并且所述基材上具有包括显影性增强化合物和聚(乙烯醇缩醛)的可成像层,其中聚(乙烯醇缩醛)的重复单元的至少25mol%包括侧挂硝基‑取代的苯酚基,以提供已曝光和未曝光区域,和B)向所述成像曝光的元件施涂pH为9至11.5的单一处理溶液,(1)仅主要去除已曝光区域,和(2)在所得平版印刷版的全部所述未曝光和已曝光区域上提供保护涂层,所述单一处理溶液包括碳酸盐和至少1wt%的一种或多种阴离子表面活性剂。 |
地址 |
美国纽约州 |