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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur spektrometrischen Vermessung eines sich in Längsrichtung bewegenden Materialstromes, folgende Verfahrensschritte umfassend: - Beleuchten eines Beleuchtungsbereiches (1b) auf dem Materialstrom (10) mittels eines in einer Strahlungsquelle (1) erzeugten Beleuchtungsstrahls (1b), - zumindest teilweises Aufsammeln der an einem Messbereich (2b) auf dem Materialstrom (10) reflektierten Strahlung mittels optischer Komponenten und weiterleiten zu einem Spektrometer, wobei der Beleuchtungsbereich (1b) den Messbereich (2b) im Wesentlichen überdeckt und Beleuchtungs- und Messbereich in Längsrichtung stationär sind, - spektrometrische Analyse der zu dem Spektrometer geleiteten Strahlung. Wesentlich ist, dass mittels Drehen eines Drehelementes (4) sowohl Beleuchtungs-, als auch Messbereich (1b, 2b) simultan entlang einer vorgegebenen, quer zu der Längsrichtung stehenden Strecke verschoben werden, wobei zumindest der Messbereich (2b) zumindest über ein an dem Drehelement (4) angeordnetes optisches Ablenkelement (4a), welches im Strahlengang eines Messstrahls (2a) zwischen Messbereich und Spektrometer angeordnet ist, zu dem Spektrometer weitergeleitet wird und dass Strahlungsquelle (1) und Spektrometer in Längs- und Querrichtung zumindest translatorisch stationär sind. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung zur spektrometrischen Vermessung gemäß des erfindungsgemäßen Verfahrens.
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