发明名称 全光纤环型反射面结构的微型F-P折射率传感器
摘要 本发明公开了一种全光纤环型反射面结构的微型F-P折射率传感器,它由普通单模光纤、大芯径空芯光纤和中心有通孔的光纤组成,普通单模光纤、大芯径空芯光纤、中心有通孔的光纤顺次熔接固定,大芯径空芯光纤和中心有通孔的光纤纤芯相通,中心有通孔的光纤和大芯径空芯光纤的接触面形成环型反射面;本发明的有益技术效果是:提供了一种制作简单、体积小、测量精度高、应用范围广、抗干扰能力强的新型折射率传感器。
申请公布号 CN101614662B 申请公布日期 2011.04.20
申请号 CN200910104435.X 申请日期 2009.07.24
申请人 重庆大学 发明人 朱涛;柯涛;饶云江
分类号 G01N21/41(2006.01)I;G02B6/255(2006.01)I 主分类号 G01N21/41(2006.01)I
代理机构 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 代理人 侯懋琪
主权项 一种全光纤环型反射面结构的微型F‑P折射率传感器的制作方法,其特征在于:该方法步骤包括:1)根据需要的长度切割普通单模光纤(1),采用光纤熔接机将普通单模光纤(1)熔接在大芯径空芯光纤(2)一端,且普通单模光纤(1)将大芯径空芯光纤(2)的纤芯口完全覆盖;2)根据需要的F‑P腔长度,切割大芯径空芯光纤(2);3)采用光纤熔接机将大芯径空芯光纤(2)的另一端与中心有通孔的光纤(3)熔接,中心有通孔的光纤(3)将大芯径空芯光纤(2)的纤芯口完全覆盖,并使中心有通孔的光纤(3)的纤芯与大芯径空芯光纤(2)的纤芯相通;4)切割中心有通孔的光纤(3),使得中心有通孔的光纤(3)的长度足够短;中心有通孔的光纤(3)由实芯光纤通过化学试剂腐蚀形成通孔而成。
地址 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号