新型回答概率测试仪

摘要

本实用新型涉及航空测距设备，尤其涉及一种新型回答概率测试仪。该测试仪包括嵌入在测试盒体里的测试电路，测试电路包括单片机、晶体振荡器和由分频器、延时器、编码脉冲发生器A、编码脉冲发生器B、选择器、延时及门形成电路和计数器构成的现场可编程门阵列FPGA，其中：单片机分别与现场可编程门阵列FPGA的延时器、编码脉冲发生器A、编码脉冲发生器B、选择器、延时及门形成电路相连接，单片机与PC机连接，晶体振荡器与现场可编程门阵列FPGA的分频器相连接。该测试仪可同时提供两路询问信号，并可随意控制两信号的前后位置和距离，可测量远回波抑制、近回波抑制、8us恢复时间、译码性能等指标。从而满足DME设备对测试仪器的要求。

主权项

一种新型回答概率测试仪，它包括嵌装在测试盒里的测试电路，其特征在于：测试电路包括单片机、晶体振荡器和由分频器、延时器、编码脉冲发生器A、编码脉冲发生器B、选择器、延时及门形成电路和计数器构成的现场可编程门阵列FPGA，其中：单片机分别与现场可编程门阵列FPGA的延时器、编码脉冲发生器A、编码脉冲发生器B、选择器、延时及门形成电路相连接，单片机与PC机连接，晶体振荡器与现场可编程门阵列FPGA的分频器相连接。