发明名称 用CT值定量表征复合材料内部夹杂缺陷类型的无损检测方法
摘要 用CT值定量表征复合材料内部夹杂缺陷类型的无损检测方法,通过利用夹杂缺陷模拟试样,建立不同类型、不同尺寸的夹杂缺陷CT值与像素关系曲线图谱,实际检测过程中利用该图谱来定量表征夹杂缺陷的类型。本发明通过制作夹杂缺陷模拟试样,建立不同类型、不同尺寸的夹杂缺陷CT值与像素关系曲线图谱,实际检测过程中利用确定的图谱来定量表征夹杂缺陷的类型;本发明采用像素平均法对夹杂缺陷的CT值进行准确的测量,排除了容积效应和点扩展现象对夹杂缺陷CT值的影响,实现了夹杂缺陷CT值的准确测量;本发明确定的检测条件保证了检测结果CT图像的质量,高的信噪比、没有伪像或轻微的伪像等。
申请公布号 CN102023171A 申请公布日期 2011.04.20
申请号 CN201010543531.7 申请日期 2010.11.12
申请人 航天材料及工艺研究所 发明人 金虎;陈颖;任华友;朱军辉
分类号 G01N23/04(2006.01)I;G01T1/16(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 杨虹
主权项 用CT值定量表征复合材料内部夹杂缺陷类型的无损检测方法,其特征在于通过以下步骤实现:第一步,标定CT设备;第二步,确定测试条件,即测试时CT设备的电压和电流;第三步,制作复合材料夹杂缺陷模拟试样,在复合材料增强纤维编织过程中加入不同尺寸的夹杂缺陷,按照待测复合材料加工工艺将夹杂了缺陷的增强纤维制作成复合材料夹杂缺陷模拟试样;第四步,建立第三步制作的复合材料夹杂缺陷模拟试样的CT值‑像素尺寸拟合曲线,A4.1、利用第一步标定的CT设备采用第二步确定的测试条件在不同的像素尺寸下测试第三步得到每一个复合材料夹杂缺陷模拟试样;A4.2、利用像素平均法确定每一个复合材料夹杂缺陷模拟试样在不同像素尺寸下的CT值,像素平均法确定CT值的标准为,缺陷尺寸小于单个像素对角尺寸时,以缺陷相邻四个像素CT值的平均值表征缺陷的CT值,缺陷尺寸大于单个像素对角尺寸、小于两个像素对角尺寸,以缺陷相邻九个像素CT值的平均值表征缺陷的CT值,缺陷尺寸大于两个像素对角尺寸时,以缺陷填满的像素中最大CT值表征缺陷的CT值;A4.3、利用步骤A4.2中不同像素尺寸与CT值的关系,得到由CT值和像素尺寸表征的采样点,根据采样点得到不同夹杂缺陷的不同尺寸下CT值‑像素尺寸拟合曲线;第五步,利用CT设备采用第二步确定的测试条件在不同像素尺寸下测试待检测复合材料,利用像素平均法得到待检测复合材料的夹杂缺陷的用CT值和像素尺寸表征的采样点;第六步,将第五步得到的待检测复合材料的夹杂缺陷的采样点与第四步确定的不同夹杂缺陷的不同尺寸下CT值‑像素尺寸拟合曲线对比,定量确定待检测复合材料中夹杂缺陷的类型。
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