发明名称 实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置和测量方法
摘要 一种实时观察的单束双模参数可调型Z扫描装置和测量方法,主要由参数调制部分,数据采集部分以及观察部分组成。在参数调制部分中,激光通过可调节衰减片以及声光调节器之后变为功率脉冲可调型的激光束,由透镜聚焦到样品表面;在数据采集部分,样品后表面的出射光通过分光棱镜分为两束,其中一束光直接进入探测器,得到材料的非线性吸收;另一束通过一个中心与光轴同轴的小孔光阑进入另一个探测器,得到材料的非线性折射;在观察部分中,在装置的光路上增加冷光源的照明装置,以便在实验中实时观察作用点的变换情况。本发明实现简单,可获得不同条件材料的非线性吸收率和非线性折射率。
申请公布号 CN101608999B 申请公布日期 2011.04.20
申请号 CN200910054823.1 申请日期 2009.07.15
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 刘静;魏劲松
分类号 G01N21/17(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/17(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置,特征在于其构成包括激光器(1),沿该激光器(1)输出激光前进的主光路方向依次是第一可调衰减片(2)、声光调制器(3)、第一孔径光阑(5)、第一分光棱镜(8)、第二分光棱镜(9)、第一聚焦透镜(11)、待测样品(12)、第二聚焦透镜(14)、第三分光棱镜(15)、第二小孔光阑(18)和第三探测器(19),该第三探测器(19)的输出端与计算机(20)的输入端相连;所述的第一聚焦透镜(11)和第二聚焦透镜(14)共焦,所述的待测样品(12)位于样品控制台(13)上且该待测样品(12)表面垂直于所述的主光路,置于所述的第一聚焦透镜(11)和第二聚焦透镜(14)共焦点附近;所述的声光调制器(3)与信号发生器(4)相连,由第一可调衰减片(2)、声光调制器(3)和信号发生器(4)组成参数调制部分;在所述的第一分光棱镜(8)的一侧垂直于所述的主光路方向设置冷光源(6),该冷光源(6)发出的光经第一分光棱镜(8)反射后沿所述的主光路经第二分光棱镜(9)进入所述的第一聚焦透镜(11),在所述的第一分光棱镜(8)的另一侧垂直于所述的主光路方向设置第一探测器(7),该第一探测器(7)的输出端与所述的计算机(20)的输入端相连;在所述的第二分光棱镜(9)的一侧垂直于所述的主光路方向设置滤光片(21)和CCD(10);在所述的第三分光棱镜(15)的一侧垂直于所述的主光路方向依次设置第二可调衰减片(16)、凸透镜(22)和第二探测器(17),该第二探测器(17)的输出端与所述的计算机(20)的输入端相连;所述的计算机(20)的输出端与所述的样品控制台(13)的控制端相连。
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